公司新聞|2022-03-31|admin
七種PCB測試
1. 在線測試在線測試 (ICT) 是現有最真實的 PCB測試典型(xing)。高價反應(ying)了(le)這一點——數萬美元，但本(ben)錢(qian)將(jiang)在于(yu)于(yu)通路板(ban)和卡具尺寸等成(cheng)分。
ICT，也稱為針床測試，可啟用并啟用通路板上的各個通路。在大普遍情景下，該測試旨在(zai)實(shi)行 100% 的掩蓋(gai)(gai)率(lv)，但您(nin)(nin)會逼(bi)近 85-90% 的掩蓋(gai)(gai)率(lv)。ICT 的長處在(zai)乎(hu)您(nin)(nin)贏得(de)的 85-90% 實(shi)足沒有報酬(chou)缺點。
該測試波及運用以與 PCB 安排相配合的辦法安置的恒定探針。探針查看焊接貫穿的完備性。釘床測試(shi)儀只需將通路板向下推到探針床上即可發端測試。有在(zai)板預先安(an)排的接入點，它承諾ICT測摸索針(zhen)與(yu)通路貫穿。她們對貫穿強加了確(que)定的壓力(li)，以(yi)保證它維持完備。
ICT 常常在更(geng)大的貫穿和球柵陣列 (BGA) 上實行。
此測試對準“老練”產物，估計簡直沒有訂正。即使您沒有將可創造性安排動作目的的一局部，而且板上有符合的焊盤，則您大概沒轍運用在線測試。悲慘的是，您(nin)沒轍變換辦(ban)法(fa)并在消費半途轉(zhuan)向 ICT 策略。
2. 飛針測試
飛針測試是一種久經檢驗的采用，比在線測試廉價。這是一種無能源典型的測(ce)試，用來查看：
翻開
長褲
制止性
庫(ku)容(rong)
電子感應
二極管題目(mu)
該測試經過在從(cong)基礎 CAD 贏得的 xy 網(wang)格上運(yun)用貫穿到(dao)探針的針來舉(ju)行(xing)。您(nin)的 ECM 步(bu)調舉(ju)行(xing)融合以配合通路板，而后(hou)運(yun)轉該步(bu)調。
咱們提出飛針(zhen)與 ICT是(shi)一個罕見的比擬。每個都有便宜和(he)缺(que)陷(xian)。
在某些情景下，ICT 無需運用飛針測(ce)試(shi)，但 PCB 的安排必需符合測試卡具——這表示著更高的初始本錢。與飛針測試比擬，ICT 不(bu)妨更快(kuai)且不(bu)易墮(duo)落，所以您大(da)概會創造特殊的本錢是犯得著的。固然飛(fei)針嘗試首先大(da)概更廉(lian)價，但(dan)對(dui)于(yu)大(da)訂(ding)單來說(shuo)，它本質上大(da)概不(bu)太合(he)算(suan)。
結果要指示一句：PCB 飛針測試不(bu)會(hui)為通路板供電(dian)。
3. 機動光學檢驗和測定 (AOI)
AOI運用單個 2D 相機或(huo)兩個 3D 相機拍攝 PCB 的像片。而(er)后(hou)，步調(diao)會將通路板的像片與精細的道理圖舉行比擬。即使生(sheng)存(cun)與道理圖在確定水(shui)平上不配合的通路板，則(ze)該通路板會被標志以供本領職員查看。
AOI 可用(yong)來趁早創造題目以保證盡量封閉消(xiao)費。然而，它不會為通路板供電，而且大(da)概(gai)沒轍 100% 掩蓋一(yi)切(qie)元件典型。
切勿僅依附機動光學檢驗和測定。AOI 應與其余測試貫串(chuan)運(yun)用(yong)。咱們最(zui)愛好的少許拉攏是(shi)：
AOI 和飛針
AOI 和在線測試 (ICT)
AOI 和功效測試
4. 老化測試(shi)
望文生義，老化測(ce)試是對 PCB 的一種更激烈的測(ce)試。它旨在檢驗和測定早期妨礙并創造負載本領。因為其強度，老化測試(shi)大概會妨害被測元件。
老化測試經(jing)過您的(de)電(dian)子擺設激動風力，常常是(shi)在其[敏感(gan)詞(ci)]指定(ding)含量。電(dian)源經(jing)過通路(lu)板貫串運(yun)轉 48 至 168 鐘點。即使股東會波折，則稱為嬰(ying)孩(hai)犧(xi)(xi)牲率。對于軍事或調理運(yun)用，嬰(ying)孩(hai)犧(xi)(xi)牲率高的(de)通路(lu)板明(ming)顯不是(shi)理念的(de)。
老化測試(shi)并(bing)不實用于(yu)每個名目，但(dan)在(zai)某些場合它很(hen)有意(yi)旨。它不妨在(zai)產物(wu)達到存戶之(zhi)前提防為難或傷害的(de)產物(wu)頒布。
請記取，老化測試(shi)會減少產物的運用壽命，更加是當測試使您的通路板接受比額定值更大的壓力時。即使創造的缺點很少或沒有創造，則不妨在較短的功夫內貶低測試(shi)控制(zhi)，以制(zhi)止(zhi) PCB 接受過大的壓力。
5. X 射線查看
也稱為 AXI，這種典型的“測試(shi)”本質上更像是一種查看(kan)東西，起(qi)碼對(dui)于大普遍 ECM 而言。
在此測(ce)試(shi)功夫，X 射線本領職員不妨經過察看以次實質在創造進(jin)程(cheng)中(zhong)趁早定位缺點：
焊接貫穿
里面陳跡
桶
有 2D 和 3D AXI 測試，3D 供給更快的測試周期。
X 射線測試不妨查(cha)看常常湮(yin)沒在視野除外的元(yuan)素，比方(fang)貫穿和(he)球柵陣列封裝，在芯片封裝下方(fang)具備焊點。縱(zong)然此查(cha)看特殊有效，但它真實須要過程培養和(he)訓練且(qie)體味充(chong)分的操縱(zong)員。
另請提防，您的(de) ECM 不(bu)確定運(yun)用 X 光(guang)機(ji)查看通路(lu)板的(de)每一層(ceng)。簡(jian)直，咱們不(bu)妨看頭通路(lu)板來檢驗和(he)測定里面缺點，但這是(shi)一個特殊耗費(fei)時間(jian)且(qie)高貴的(de)進程（對 ECM 和(he)存戶而言(yan)）。
6. 功效測(ce)試
有些存戶真實愛好好的、舊式的功效測試。您的 ECM 運(yun)用它(ta)來考證產物能否(fou)會(hui)回電。
這個測試真實(shi)須要少許貨(huo)色：
外部擺設
燈具(ju)
UL、MSHA 和其余規范的訴求(qiu)
該功效測試及其參數常常由存戶供給。少許 ECM 不妨扶助開拓和安排如許的測試。
這真實(shi)須要功(gong)(gong)夫(fu)。即使您想趕快將(jiang)產物推出(chu)商場，這大概不是您的[敏感詞(ci)]采用。但從品質(zhi)和壽(shou)命(ming)的觀點來(lai)看，功(gong)(gong)效測試(shi)不妨保場面和便宜。
按照簡直情景，再有其余典型的功效測試可(ke)用來查看(kan)您(nin)的 PCB。
PCB 功效測考查證 PCB在產物最后運用情況中的動作。功效測試、其開拓和步調的(de)訴(su)求大概因 PCB 和最后產物而異(yi)。
其余 PCB 組建測(ce)試典型囊括：
可焊性測試：保證外表堅忍并減少(shao)產生真(zhen)實焊點的時機
PCB 傳染測試：檢測(ce)可能污染(ran)電(dian)路板、導致腐蝕和其(qi)他(ta)問題的大(da)量離子
顯微切(qie)片分析：調查缺陷、開路、短(duan)路和其他故障
時域(yu)反(fan)射計 (TDR)：查找高(gao)頻板故障，
剝離測試(shi)：找出從板上剝離層壓板所需(xu)的強度度量
浮焊測試：確定(ding) PCB 孔可以(yi)抵抗(kang)的熱應力水平
功能性PCB測試的優勢包括：
模擬操作環境，[敏感詞]限度地降(jiang)低客戶成本(ben)
可以消除對昂貴的(de)(de)系統測(ce)試的(de)(de)需要
可以檢查(cha)產(chan)品功(gong)能——從 50% 到 100% 的發(fa)貨(huo)產(chan)品，您(nin)需(xu)要(yao)檢查(cha)和調試(shi)它
與其(qi)他(ta)測試(shi)完美搭配，例如 ICT 和(he)飛針
非常適合檢測(ce)不正(zheng)確的(de)組件值(zhi)、功能故障和參數故障。
